离子束切割仪是一种用于物理学领域的工艺试验仪器，用于样品的截面制备及平面抛光。Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪可以灵活选择多种样品台，不仅适用于高通量实验，也适合于特定制样需求实验室。仪器可用来制备横切面和抛光表面，用于扫描电子显微镜 (SEM)、微观结构分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。
Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪具有哪些优势特点？
1、*的三离子束系统，可获得更好的截面处理质量，快速获得宽且深的切割区域，大大降低工作时间。并可实现在一次处理过程中处理 3 个样品。因此对有高通量需求的实验室，徕卡EM TIC 3X是更理想的解决方案。
2、样品托：多种多样的样品托，适合于各类尺寸样品
3、可装配系统：根据样品制备需要，可以有针对性地在徕卡EM TIC 3X上装配一体化设计样品台——标准样品台、多样品台或冷冻样品台。
4、样品TOPO结构清晰可见：除了剖面切割，使用同一样品托还可对样品进行清洁及增强衬度的功能。
5、冷冻样品台：针对温度敏感型样品如橡胶或水溶性高分子聚合纤维等，可以使用冷冻样品台对样品进行低温下处理，获得高质量处理结果。样品托和挡板的温度都可达到-150℃。
